單項(xiàng)選擇題干涉顯微鏡的測(cè)量范圍為（）μm的微觀(guān)不平度十點(diǎn)高度。

A.0.01～0.1
B.0.02～0.2
C.0.05～0.8
D.0.03～0.3


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1.單項(xiàng)選擇題干涉顯微鏡用來(lái)測(cè)量（）誤差。

A.工件外徑
B.角度
C.分度
D.表面粗糙度

2.單項(xiàng)選擇題光切顯微鏡用來(lái)測(cè)量（）誤差。

A.表面粗糙度
B.角度
C.分度
D.工件外徑

3.單項(xiàng)選擇題經(jīng)緯儀用來(lái)測(cè)量（）誤差。

A.平行平面的長(zhǎng)度
B.零件的形狀
C.表面粗糙度
D.角度

4.單項(xiàng)選擇題臥式測(cè)長(zhǎng)儀用來(lái)測(cè)量（）誤差。

A.表面粗糙度
B.角度
C.平行平面的長(zhǎng)度
D.零件的形狀

5.單項(xiàng)選擇題光學(xué)計(jì)用來(lái)檢查（）誤差。

A.表面粗糙度
B.比較測(cè)量零件的外徑
C.圓柱體的直徑
D.分度

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