圖是測試橫波探頭示意圖,根據(jù)圖示判斷是以下哪個測試項目()
A.折射角
B.入射點
C.入射角
D.探頭前沿
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圖是橫波檢測示意圖。如果按聲程調(diào)整時基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β,則圖中缺陷的深度位置d應按以下哪個公式計算()
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測示意圖,圖中缺陷位置對應的聲束是 ()
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
圖是橫波檢測示意圖,圖中缺陷位置在哪個跨距內(nèi)()
A.0.5跨距
B.1.0跨距
C.1.5跨距
D.2.0跨距
圖是橫波檢測示意圖,圖中標注的A、B、C、D4個水平距離中,哪個表示2.0跨距()
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測示意圖,圖中標注的A、B、C、D4個水平距離中,哪個表示1.5跨距()
A.A
B.B
C.C
D.D
最新試題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時基線時,應使()同時對準相應的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。