單項選擇題

CSK-IA試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44和φ50臺階孔,其目的是()

A.測定斜探頭K值
B.測定直探頭盲區(qū)范圍
C.測定斜探頭分辨率
D.以上全部

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