A、20kv/10mA20kv/20mA20kv/30mA20kv/40mA20kv/50mA30kv/50mA40kv/50mA50kv/50mA
B、20kv/10mA30kv/10mA40kv/10mA50kv/10mA50kv/20mA50kv/30mA50kv/40mA50kv/50mA
C、20kv/10mA30kv/10mA40kv/10mA50kv/10mA50kv/50mA
D、20kv/10mA20kv/20mA20kv/30mA20kv/40mA20kv/50mA50kv/50mA
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A、LiF200使用40.45°
B、PX1使用30.69°
C、Ge使用144.86°
D、LiF220使用58.53°
A、LiF220
B、LiF200
C、Ge111
D、PE002
A、柳鋼現(xiàn)在使用的X熒光光譜儀共有三種準直器,分別是150μm、300μm、700μm的準直器。
B、改變準直器,可以改變分辨率,改變X熒光的強度。
C、使用150μm的準直器比使用300μm的準直器分辨率要低。
D、使用準直器可以獲得平行光。
A、關閉高壓、放真空、啟動TCM軟件、選擇第二項M、按F1關閉cap、按F3使Plunger向下,再按F1打開cap。
B、放真空、關閉高壓、啟動TCM軟件、選擇第二項M、按F1關閉cap、按F3使Plunger向下,再按F1打開cap。
C、放真空、關閉高壓、啟動TCM軟件、選擇第二項M、按F1關閉cap、按F2使Plunger向下,再按F1打開cap。
D、關閉高壓、放真空、啟動TCM軟件、選擇第二項M、按F1關閉cap、按F3使Plunger向下,再按F1打開cap。
A、SK與MoL沒有干擾
B、FeK(IV)與SiK沒有干擾;
C、PbL與AsK沒有干擾
D、AsK與PbL沒有干擾
最新試題
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點是()。
直讀光譜分析鐵水試樣時,鐵水試樣必須白口化。
選用ICP-AES儀器,同時可以進行()。
ICP-AES法測量分析試樣時,所選擇的光譜分析線是()。
ICP中等離子體環(huán)狀結構形成的原因是()。
在鋼鐵常見元素中,能夠使用脈沖加熱惰氣熔融熱導法測量的是()。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測定過程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無需任何預處理。
空心陰極燈的安裝,可以不考慮燈腳的位置,裝上即可。
紅外吸收法分析碳和硫時,可以用同一個紅外池來檢測。