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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】新開站監(jiān)控指標(biāo)發(fā)現(xiàn)切換成功率低，有哪些優(yōu)化手段，涉及哪些參數(shù)？
答案：
切換成功率低的原因可能為：鄰區(qū)問(wèn)題，數(shù)據(jù)定義，參數(shù)設(shè)置，干擾，上下行平衡，時(shí)鐘失鎖，硬件故障等。優(yōu)化涉及的參數(shù)：門限，遲...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】如何判斷上下行干擾？
答案：
系統(tǒng)側(cè)，通過(guò)測(cè)量報(bào)告：上下行質(zhì)量和干擾帶分布。路測(cè)中，下行通過(guò)查看C/I，上行無(wú)線環(huán)境較好，UE發(fā)射功率過(guò)大。
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】路測(cè)時(shí)如何從信令里面發(fā)現(xiàn)掉話？TEMS能否用于測(cè)試MOS？
答案：
掉話：出現(xiàn)connect，未出現(xiàn)disconnect。TEMS可以用于MOS測(cè)試，需要MOS盒。
