問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】可采取哪些方法來(lái)分離和再現(xiàn)軟件缺陷？

答案： 1，確保所有的步驟都被記錄；2，注意時(shí)間和運(yùn)行條件上的因素；3，注意軟件的邊界條件、內(nèi)容容量和數(shù)據(jù)溢出的問(wèn)題；4，注意事...

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【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述集成測(cè)試的實(shí)施方案有哪些？

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【簡(jiǎn)答題】黑盒測(cè)試包括功能非功能測(cè)試部分，說(shuō)明幾種測(cè)試方法。

答案：黑盒測(cè)試一般可分為功能測(cè)試和非功能測(cè)試兩大類(lèi)：功能測(cè)試主要包括等價(jià)類(lèi)劃分、邊值分析、因果圖法、錯(cuò)誤推測(cè)、功能圖法等，主要...