A.平行于探測面的缺陷
B.與探測面傾斜的缺陷
C.垂直于探測面的缺陷
D.不能用斜探頭檢測的缺陷
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A.工件中有小而密集的缺陷
B.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
A.反射率高，波幅高，探頭左右移動時波形穩(wěn)定
B.從焊縫兩側(cè)檢測時，反射波高大致相當
C.當探頭做定點轉(zhuǎn)動時，波幅高度下降速度較快
D.以上全部
A.反射率高，波幅高，探頭左右移動時波形穩(wěn)定
B.從焊縫兩側(cè)檢測時，反射波高大致相當
C.當探頭做定點轉(zhuǎn)動時，波幅高度下降速度較快
D.以上全部
A.被檢測件材質(zhì)和幾何外形
B.檢測人員的技術(shù)水平
C.被檢測件中的缺陷位置和方向
D.以上都是
A.缺陷位置的縱坐標和橫坐標
B.缺陷深度
C.缺陷的水平距離
D.探頭與焊縫間的距離
最新試題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。