從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。

火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。

直讀光譜儀使用一段時(shí)間后需要清理廢氣過濾器，廢氣過濾器需放置一段時(shí)間后才能打開，以防自燃。

金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素，通常為基體元素。

X射線熒光光譜儀長時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

鋼鐵中碳分析，如果采用常規(guī)化學(xué)方法，需要隨同試料做空白試驗(yàn)。

高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鎢鐵中碳硫含量，氧氣源發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)重新對(duì)工作曲線進(jìn)行校正。

碳硫分析儀器短期或長期不使用時(shí)，應(yīng)間隔一段時(shí)間，開一次機(jī)。