A、報(bào)警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時(shí)基電路
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、鍛件
B、棒坯
C、鑄錠
D、薄板
A、粗糙表面回波幅度高
B、無(wú)影響
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能
A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開(kāi)的近表面缺陷
D、以上都可能
A、采用當(dāng)量試塊比較法測(cè)定的結(jié)果
B、對(duì)大于聲束的缺陷，采用底波對(duì)比而測(cè)得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測(cè)得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲線的原理相同
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
最新試題
對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì)，它反映子實(shí)體滿(mǎn)足需要的（）
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）
（）件對(duì)不同類(lèi)型的檢測(cè)對(duì)象和要求，采用的方式各有不同。
對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。
渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。