單項(xiàng)選擇題底片反差是指（）。
A、底片上相鄰區(qū)域的曝光量差
B、底片上相鄰區(qū)域的黑度差
C、膠片特性曲線的r值
D、曝光曲線上的tgQ值
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題根據(jù)X射線膠片特性曲線的斜率可以知道膠片的（）特性。
A、靈敏度
B、曝光量
C、黑度
D、對(duì)比度
2.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線的橫坐標(biāo)表示（）。
A、底片黑度
B、曝光量
C、曝光量的對(duì)數(shù)
D、底片黑度的對(duì)數(shù)
3.單項(xiàng)選擇題下面放射源的穿透能力最強(qiáng)（）。
A、60Co
B、220kVpX射線
C、15MeVX射線
D、192Ir
4.單項(xiàng)選擇題γ射線比普通X射線的波長更短，因此γ射線對(duì)物質(zhì)的穿透能力一般比普通X射線（）。
A、相同
B、弱
C、強(qiáng)
D、以上都可能
5.單項(xiàng)選擇題（）可以提高X射線的穿透能力。
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
最新試題
對(duì)于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同，渦流檢測(cè)儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
各類渦流檢測(cè)儀器的工作原理和（）是相同的。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷檢測(cè)即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題