A.100
B.150
C.250
D.200
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
如圖3-3所示,A、B兩點(diǎn)的坐標(biāo)分別為(20m,40m)、(40m,40m),實(shí)測兩已知點(diǎn)到待測點(diǎn)P的距離D1、D2分別為12m、10m,D為20m。則由距離交會法確定的待測點(diǎn)P的坐標(biāo)為()。
A.(25m,35.4m)
B.(25m,43.Sm)
C.(28.9m,43.5m)
D.(28.9m,35.4m)
A.(10m,15m)
B.(15m,25m)
C.(20m,30m)
D.(25m,35m)
如圖3-1,已知A(100m,100m)、B(200m,200m),方位角α=45°。測量A點(diǎn)到P的水平距離D=38m,觀測水平角β=52°。由極坐標(biāo)法計(jì)算界址點(diǎn)P的坐標(biāo),其結(jié)果是()。
A.(126.87m,126.87m)
B.(123.40m,129.94m)
C.(95.37m,137.73m)
D.(195.37m,237.72m)
A.概略
B.透析
C.坐標(biāo)反算
D.解析
A.調(diào)試
B.定位
C.定向
D.避雷功能
A.外業(yè)觀測
B.野外測量
C.外業(yè)準(zhǔn)備
D.野外探測
A.精度高
B.費(fèi)用省
C.速度快
D.操作復(fù)雜
A.數(shù)據(jù)整理
B.邊長改化
C.坐標(biāo)計(jì)算
D.成果輸出
A.只經(jīng)過傾斜改正后的平距D0
B.只經(jīng)過歸算改正的平距D0
C.經(jīng)過投影改正的平距D2
D.經(jīng)過歸算改正和投影改正的平距D2
A.邊長測距
B.坐標(biāo)測量
C.數(shù)據(jù)歸位
D.邊長改化
最新試題
在地籍圖上可以用土壤及植被符號表示的有()。
模擬法測繪地籍圖的準(zhǔn)備工作包括()。
宗地圖繪制方法有()。
地籍圖屬于大比例尺圖,下列不屬于其比例尺一般大小的有()。
宗地圖主要描述的內(nèi)容有()。
有關(guān)界址點(diǎn)測量精度的表述,說法錯(cuò)誤的有()。
模擬法測圖準(zhǔn)備工作包括()。
下列關(guān)于宗地圖的要求說法,正確的有()。
數(shù)字法地籍測圖時(shí),根據(jù)數(shù)據(jù)采集所使用的硬件不同可分為()。
有關(guān)數(shù)字法測圖在地籍細(xì)部測量中得到普及原因的表述,說法正確的有()。