A.掃查面上多余的耦合劑會產(chǎn)生假顯示
B.探頭與斜楔接觸不良會降低靈敏度
C.熒光屏上的固定回波有可能是斜楔內(nèi)產(chǎn)生的反射波
D.以上都有可能
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A.底波后7.6D
B.底波前7.6D
C.底波后0.76D
D.底波前0.76D
A.緊鄰孔波之后的位置
B.緊鄰始波之后的位置
C.緊鄰孔波之前的位置
D.任何位置都有可能
A.手持探頭的姿勢隨探頭移動而保持不變;
B.探頭移動時,注意熒光屏上底波是否變化;
C.探頭移動時,注意熒光屏上固定回波或基線上噪聲信號波動狀態(tài);
D.盡量多涂耦合劑。
A.滿刻度
B.不小于滿刻度的85%
C.不大于滿刻度的10%
D.不小于水平極限的85%
A.防止耦合劑進入孔內(nèi)不易清除而導(dǎo)致螺栓腐蝕;
B.防止耦合劑進入孔內(nèi)而產(chǎn)生偽缺陷顯示信號;
C.改善耦合效果,有利于聲傳播;
D.以上都是。
最新試題
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
儀器水平線性影響()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。