單項選擇題同直徑的平底孔在球面波聲場中距離增大一倍,則回波高度降低()。

A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.9dB


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2.單項選擇題半擴散角是晶片尺寸和聲波波長的函數(shù),它()。

A.隨頻率增加、晶片尺寸減小而減小
B.隨頻率或晶片尺寸減小而增大
C.隨頻率或晶片尺寸減小而減小
D.頻率增加、晶片尺寸減小而增大

3.單項選擇題下面有關(guān)半擴散角的敘述,哪條是錯誤的?()

A.半擴散角用第一零輻射角表示
B.半擴散角用以表征波束的指向性
C.半擴散角大小取決于晶片尺寸和聲波波長
D.超聲探頭的半擴散角越小越好

4.單項選擇題在超聲探頭遠場區(qū),()。

A.聲束邊緣聲壓最大
B.聲束軸線上聲壓最大
C.聲束邊緣和中心軸線聲壓一樣
D.聲壓與聲束寬度成正比

5.單項選擇題φ14mm、2.5MHz直探頭在鋼中的近場長為()

A.27mm
B.21mm
C.38mm
D.以上都不對

最新試題

移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。

題型:單項選擇題

在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。

題型:單項選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。

題型:單項選擇題

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。

題型:單項選擇題

()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

題型:單項選擇題

關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。

題型:單項選擇題

調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。

題型:單項選擇題

底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:單項選擇題

()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

題型:單項選擇題

()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

題型:單項選擇題