A.卷褶偽影是由于FOV小于受檢部位所致 B.卷褶偽影主要發(fā)生在頻率編碼方向上 C.變換頻率編碼和相位編碼方向可消除卷褶偽影 D.施加空間預(yù)飽和帶可抑制卷褶偽影 E.增大FOV可增加卷褶偽影出現(xiàn)的頻率
A.EPI序列時(shí)改變頻率編碼的方向 B.增加頻率編碼的帶寬,可減輕偽影 C.選用主磁場較高的MR設(shè)備進(jìn)行掃描 D.施加脂肪抑制技術(shù) E.一般序列改變相位編碼方向
A.一般序列出現(xiàn)在頻率編碼方向上 B.EPI序列出現(xiàn)在相位編碼方向上 C.脂肪組織向頻率編碼梯度場較高的一側(cè)移位 D.主磁場強(qiáng)度越高,化學(xué)位移偽影越小 E.化學(xué)位移偽影出現(xiàn)在脂肪組織和其他組織的界面上