（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。

超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。

測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的（）。