單項(xiàng)選擇題

無(wú)損檢驗(yàn)方法中“MT”表示（）探傷。

A.磁粉
B.熒光
C.射線
D.超聲波

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單項(xiàng)選擇題

射線探傷的簡(jiǎn)稱是（）。

A.MT
B.PT
C.RT
D.UT

單項(xiàng)選擇題

無(wú)損檢測(cè)中探測(cè)厚度最大的是（）探傷。

A.磁粉
B.熒光
C.射線
D.超聲波