A.A點(diǎn)比B點(diǎn)低 B.A點(diǎn)比B點(diǎn)高 C.A點(diǎn)比B點(diǎn)可能同高 D.A點(diǎn)B點(diǎn)的高程取決于儀器的架設(shè)高度
A.觀測(cè)者、觀測(cè)方法、觀測(cè)儀器 B.觀測(cè)儀器、觀測(cè)者、外界因素 C.觀測(cè)方法、外界因素、觀測(cè)者 D.觀測(cè)儀器、觀測(cè)方法、外界因素
A.1.410 B.1.894 C.0.242 D.1.652