問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】常用的BIT技術(shù)有哪些？各有什么特點(diǎn)？

答案：（1）通用BIT技術(shù)：測(cè)試點(diǎn)的選擇直接影響被測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試性。包括余度BIT技術(shù)、環(huán)繞BIT技術(shù)、并行測(cè)試技術(shù)。

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【簡(jiǎn)答題】什么是固有測(cè)試性？固有測(cè)試性設(shè)計(jì)的主要內(nèi)容包括哪幾個(gè)方面？

答案：固有測(cè)試性是指僅取決于產(chǎn)品硬件設(shè)計(jì)，不依賴于測(cè)試激勵(lì)和響應(yīng)數(shù)據(jù)的測(cè)試性。
固有測(cè)試性設(shè)計(jì)主要從硬件設(shè)計(jì)和與外部...

問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】什么是可測(cè)試性？智能儀器中引入可測(cè)試性設(shè)計(jì)有什么優(yōu)點(diǎn)？

答案：可測(cè)試性是指產(chǎn)品能夠及時(shí)準(zhǔn)確地確定其自身狀態(tài)（如可工作、不可工作、性能下降等）和隔離其內(nèi)部故障的設(shè)計(jì)特性。可測(cè)試性包括三...