A.便攜式X射線熒光光譜儀 B.臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀 C.便攜式超聲波測(cè)厚儀 D.便攜式鍍層測(cè)厚儀
A.環(huán)境溫度變化很大時(shí) B.測(cè)試數(shù)據(jù)比以前有較大偏差時(shí) C.長(zhǎng)時(shí)間未使用儀器,再次使用時(shí) D.正常使用3天左右需做一次系統(tǒng)自檢
A.Mo B.B C.Sn D.N