問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】VOH/IOH靜態(tài)測(cè)試方法。

答案： 1、器件的所有輸出管腳預(yù)置為邏輯高狀態(tài)；
2、對(duì)待測(cè)的輸出管腳施加spec上指定的電流IOH（拉電流）；

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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】IDD靜態(tài)電流測(cè)試方法。

答案： 1、運(yùn)行一定的測(cè)試向量將器件進(jìn)入低功耗狀態(tài)；
2、器件保持在低功耗裝態(tài)下，測(cè)量流入VDD的電流；
3...

問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】Open-short功能測(cè)試優(yōu)缺點(diǎn)。

答案：優(yōu)點(diǎn)
相對(duì)于DC串行/靜態(tài)法，運(yùn)行測(cè)試向量要快得多。
缺點(diǎn)
datalog顯示的結(jié)果信息有...