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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】IIL串行測(cè)試方法。
答案：
1、電源端施加VDDmax；
2、所有的輸入管腳施加VIH預(yù)置為邏輯1狀態(tài)；
3、對(duì)待測(cè)管腳施加低電...
2、所有的輸入管腳施加VIH預(yù)置為邏輯1狀態(tài)；
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】VOH/IOH靜態(tài)測(cè)試方法。
答案：
1、器件的所有輸出管腳預(yù)置為邏輯高狀態(tài)；
2、對(duì)待測(cè)的輸出管腳施加spec上指定的電流IOH（拉電流）；
2、對(duì)待測(cè)的輸出管腳施加spec上指定的電流IOH（拉電流）；
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】IDD靜態(tài)電流測(cè)試方法。
答案：
1、運(yùn)行一定的測(cè)試向量將器件進(jìn)入低功耗狀態(tài)；
2、器件保持在低功耗裝態(tài)下，測(cè)量流入VDD的電流；
3...
2、器件保持在低功耗裝態(tài)下，測(cè)量流入VDD的電流；
3...
