A.不宜用于粗糙試件表面缺陷的檢驗 B.閃點較低 C.不宜用于大批量試件檢驗 D.以上都對
A.最終機加工以后 B.涂層、氧化表面處理工序之前 C.熱處理之后 D.以上都對
A.易于攜帶 B.適用于現(xiàn)場檢驗 C.適用于試件的批量檢驗 D.適用于試件的局部檢驗