問答題簡述CSK—ⅠA試塊與ⅡW試塊相比有哪些改變。這些改變有何用途?

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移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。

題型:單項(xiàng)選擇題

調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。

題型:單項(xiàng)選擇題

()是影響缺陷定量的因素。

題型:單項(xiàng)選擇題

板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

題型:單項(xiàng)選擇題

直接接觸法是指探頭與工件之間()。

題型:單項(xiàng)選擇題

()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

題型:單項(xiàng)選擇題

實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。

題型:單項(xiàng)選擇題

超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。

題型:單項(xiàng)選擇題

探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題