A.實(shí)際長(zhǎng)度
B.指示長(zhǎng)度
C.測(cè)量長(zhǎng)度
D.相對(duì)長(zhǎng)度
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A.當(dāng)量法
B.測(cè)長(zhǎng)法
C.半波高度法
D.絕對(duì)靈敏度法
A.當(dāng)量
B.寬度
C.高度
D.長(zhǎng)度
A.密度
B.聲阻抗
C.晶粒度
D.表面粗糙度
A.可不考慮檢測(cè)耦合差補(bǔ)償
B.適用于檢測(cè)的聲程小于等于3N
C.可不使用試塊
D.缺陷定量可采用計(jì)算法或AVG曲線法
A.x〈3N
B.x≥N
C.x≥2N
D.x≥3N
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。