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單項選擇題（）主要探測工件內(nèi)部缺陷。

A.射線、超聲
B.射線、渦流
C.磁粉、渦流
D.滲透、超聲

1.單項選擇題同樣測距的底面，用同樣靈敏度條件探測，回波最高的是：（）。

A.凸圓柱面
B.傾斜底面
C.平行的大平底面
D.凹圓柱面

2.單項選擇題CSK—IA 試塊的上Φ44、Φ50臺階孔，是測定（）。

A.斜探頭K 值
B.直探頭盲區(qū)范圍
C.斜探頭分辨力
D.以上全是

3.單項選擇題脈沖反射法超聲波以持續(xù)（）的時間發(fā)射脈沖到被檢工件內(nèi)。

A.極短
B.極長
C.一般
D.以上全是

4.單項選擇題斜探頭前沿長度和K 值測定時，采用（）時，精度較高。

A.橫孔
B.大平底
C.試塊直角棱邊
D.試件棱角

5.單項選擇題CSK—IA 試塊利用（）和R100來調(diào)整聲的波探測范圍或測定斜探頭的入射點（前沿長度）。

A.R30
B.R40
C.R50
D.R60