判斷題靈敏度確定后，按軸型進(jìn)行半軸實(shí)物試塊靈敏度驗(yàn)證。在半軸實(shí)物試塊上探測(cè)鑲?cè)氩績(jī)?nèi)、外側(cè)1mm深人工裂紋，應(yīng)正常有效檢出，波高幅度≥80%。
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光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）
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