單項(xiàng)選擇題曲率半徑?。ㄈ缧奖”诠埽┨綔y(cè)面工件的超聲檢測(cè)中,對(duì)探頭的基本要求是()
A.小晶片、小K值斜探頭
B.大晶片、小K值斜探頭
C.小晶片、大K值斜探頭
D.大晶片、大K值斜探頭
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1.單項(xiàng)選擇題超聲波檢測(cè)中,欲發(fā)現(xiàn)垂直于探測(cè)面的缺陷,應(yīng)優(yōu)先選擇()
A.大角度斜探頭
B.小角度斜探頭
C.水浸探頭
D.直探頭
2.單項(xiàng)選擇題超聲檢測(cè)用聚焦探頭與普通探頭相比,其特點(diǎn)是()
A.聲能集中,靈敏度高
B.有效檢測(cè)距離有限制
C.聲束小,每次掃查區(qū)域小
D.以上選項(xiàng)全部
3.單項(xiàng)選擇題在UT中,探頭的頻率能夠影響下列哪些項(xiàng)目?()
A.聲束指向角
B.探頭近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.發(fā)射強(qiáng)度和對(duì)小缺陷的檢出能力
D.以上選項(xiàng)全部
4.單項(xiàng)選擇題在常規(guī)工業(yè)手工超聲波檢測(cè)中,最常用的超聲波儀器是()
A.A型脈沖穿透式
B.A型脈沖反射式
C.A型連續(xù)穿透式
D.A型連續(xù)反射式
5.單項(xiàng)選擇題在UT中,探頭晶片尺寸能夠影響()
A.聲束指向角
B.探頭近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.聲束能量和不同深度缺陷的檢出能力
D.以上選項(xiàng)全部
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題