在電子探針中，測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫為（）。

熱分析中對(duì)樣品的重量沒(méi)有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。

利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

在紅外光譜分析中，基本振動(dòng)區(qū)是指（）。

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。