判斷題

B型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。

答案：正確

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雙晶探頭只能用于縱波檢測。

答案：錯誤

點聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高。

答案：正確