單項選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺階孔，其目的是方便用于（）
A.測定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測定直探頭盲區(qū)范圍
C.測定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
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1.單項選擇題用一臺時基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測無切槽的IIW2試塊，斜探頭聲束朝向R25方向，若令第一次回波位于滿刻度為100的水平刻度25處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）
A.50
B.75
C.100
D.以上都不對
2.單項選擇題平底孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛鑄件
3.單項選擇題長橫孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛件
4.單項選擇題柱孔最常用作（）檢測的參考反射體。
A.蘭姆波
B.縱波
C.橫波
D.除B以外
5.單項選擇題在超聲波檢測中，最適宜以刻槽作為參考反射體探測（）
A.軋制板材中的分層
B.管材縱向裂紋
C.焊縫中的氣孔
D.鍛件的內(nèi)部夾雜物
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
題型：單項選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項選擇題
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項選擇題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。
題型：單項選擇題
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。
題型：單項選擇題