A.波的干涉
B.波的疊加原理
C.波的獨(dú)立性
D.以上都不是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.機(jī)械波是構(gòu)成介質(zhì)的無數(shù)質(zhì)點(diǎn)的一種共同運(yùn)動(dòng)形式 B.當(dāng)介質(zhì)發(fā)生振動(dòng)時(shí)，各個(gè)質(zhì)點(diǎn)隨波遷移 C.機(jī)械波向外傳播的是機(jī)械振動(dòng)的形式 D.機(jī)械波的傳播過程是振動(dòng)能量的傳播過程
A.振動(dòng)系統(tǒng)在外力作用下發(fā)生的振動(dòng)稱為受迫振動(dòng)
B.物體的受迫振動(dòng)達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，其振動(dòng)的頻率與物體的固有頻率有關(guān)
C.當(dāng)周期性策動(dòng)力的頻率和物體的固有頻率不等時(shí)振幅達(dá)到最大，即產(chǎn)生共振
D.探頭向工件輻射超聲波時(shí)，其頻譜中的最大幅值點(diǎn)的頻率就是探頭的共振頻率
A.簡諧振動(dòng)是無阻尼振動(dòng)，是振動(dòng)的常見狀態(tài)
B.因受到阻力而使振幅不斷減小的振動(dòng)叫做阻尼振動(dòng)
C.阻尼振動(dòng)就是能量不斷減少的振動(dòng)
D.阻尼振動(dòng)有摩擦阻尼和輻射阻尼兩種
A.機(jī)械振動(dòng)是物體或質(zhì)點(diǎn)圍繞其平衡位置所做的往復(fù)運(yùn)動(dòng)
B.一切能夠發(fā)出聲音的物體在發(fā)出聲音時(shí)所做的運(yùn)動(dòng)都是振動(dòng)
C.彈簧振子的運(yùn)動(dòng)、擊鼓后的鼓膜的起伏運(yùn)動(dòng)等都是常見的機(jī)械振動(dòng)
D.超聲波波源的運(yùn)動(dòng)也屬于機(jī)械振動(dòng)
A.0.25N
B.0.5N
C.0.75N
D.N
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
儀器水平線性影響（）。