單探頭法容易檢出（）。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現一系列的波，這種波是（）。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

在對缺陷進行定量前，必須先調節(jié)（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。