調節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

單探頭法容易檢出（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

在對缺陷進行定量前，必須先調節(jié)（）。

板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。

（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產品技術要求或有關標準來確定。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。