A.r
B.ρ
C.
D.δ
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.Z分布
B.t分布
C.
分布
D.F分布
A.韋克斯勒智力測(cè)驗(yàn)
B.比納-西蒙智力量表
C.瑞文標(biāo)準(zhǔn)推理測(cè)驗(yàn)
D.團(tuán)體智力篩選測(cè)驗(yàn)
A.簡(jiǎn)單隨機(jī)抽樣
B.等距抽樣
C.分層抽樣
D.分階段抽樣
A.難度
B.區(qū)分度
C.信度
D.效度
A.單總體平均數(shù)的顯著性檢驗(yàn)
B.兩總體平均數(shù)差異顯著性檢驗(yàn)
C.卡方檢驗(yàn)
D.方差分析
最新試題
當(dāng)總體比較大，內(nèi)部結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜，而所抽樣本又比較少的時(shí)候應(yīng)使用（）
單向方差分析的功能是（）
用于表示被試在某一被試團(tuán)體中相對(duì)地位的測(cè)驗(yàn)是（）
分?jǐn)?shù)
信度系數(shù)取值小，測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)誤會(huì)（）
χ2檢驗(yàn)的過程中要求每一類的理論次數(shù)應(yīng)該（）
不受極端數(shù)據(jù)的影響，但不穩(wěn)定的集中量數(shù)是（）
某研究員在高中一年級(jí)學(xué)期末對(duì)某班學(xué)生的數(shù)學(xué)成績(jī)進(jìn)行了測(cè)驗(yàn)，以檢驗(yàn)初中升學(xué)考試數(shù)學(xué)試卷的效度，這屬于（）
簡(jiǎn)述常用的控制假設(shè)檢驗(yàn)兩類錯(cuò)誤的方法。
項(xiàng)目區(qū)分度是測(cè)驗(yàn)性能的一個(gè)指標(biāo)，說明的是（）