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光學瓦檢器的基本誤差校驗應(yīng)逐點反復校正()次。
A、4
B、3
C、2
D、7
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單項選擇題
對計量器具的計量性能、檢定項目、檢定條件、方法、周期等所作的技術(shù)規(guī)定叫()。
A、計量檢定
B、計量檢定規(guī)程
C、計量法規(guī)
D、檢定法規(guī)
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單項選擇題
光學瓦檢器在0≤X≤1示值與標準值之差不能超過()。
A、±0.01
B、±0.03
C、±0.05
D、±0.04
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