單項(xiàng)選擇題光學(xué)瓦檢器的基本誤差校驗(yàn)應(yīng)逐點(diǎn)反復(fù)校正()次。

A、4
B、3
C、2
D、7


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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)計(jì)量器具的計(jì)量性能、檢定項(xiàng)目、檢定條件、方法、周期等所作的技術(shù)規(guī)定叫()。

A、計(jì)量檢定
B、計(jì)量檢定規(guī)程
C、計(jì)量法規(guī)
D、檢定法規(guī)

2.單項(xiàng)選擇題光學(xué)瓦檢器在0≤X≤1示值與標(biāo)準(zhǔn)值之差不能超過(guò)()。

A、±0.01
B、±0.03
C、±0.05
D、±0.04

3.單項(xiàng)選擇題計(jì)量人員應(yīng)保證計(jì)量檢定的原始數(shù)據(jù)和有關(guān)資料()。

A、準(zhǔn)確
B、整齊
C、完整
D、有效

5.單項(xiàng)選擇題儀器進(jìn)行擴(kuò)散性試驗(yàn),零位變化不得超過(guò)()。

A、基本誤差
B、相對(duì)誤差
C、絕對(duì)誤差
D、相似誤差