A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度小于3N的工件
D.以上都是
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A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度大于3N的工件
D.以上都是
A.根據(jù)入射角度不同，試件中可同時(shí)產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同，試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同，試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測(cè)量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
A.在確定的檢測(cè)條件下，缺陷的大小可用波高值來(lái)表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時(shí)，可用底面回波高度法進(jìn)行評(píng)定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進(jìn)行比較，稱(chēng)為當(dāng)量評(píng)定法
D.以上都是
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。