（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。

單探頭法容易檢出（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。