A.6
B.8
C.10
D.15
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A.顯影溫度過(guò)高
B.顯影時(shí)間過(guò)短
C.顯影時(shí)攪動(dòng)不足
D.顯影液老化
A.25分鐘
B.30分鐘
C.35分鐘
D.40分鐘
A.20分鐘
B.底片通透即可
C.通透時(shí)間的2倍
D.30分鐘
A.X射線應(yīng)在1.5-3.5范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在1.8-3.5范圍內(nèi)
B.X射線應(yīng)在1.5-3.5范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在2.0-3.5范圍內(nèi)
C.X射線應(yīng)在1.5-3.0范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在2.0-4.0范圍內(nèi)
D.X射線應(yīng)在1.5-3.0范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在1.8-3.5范圍內(nèi)
A.分三次透照,兩次間隔120°
B.分倆次透照,兩次間隔90°
C.分四次透照,兩次間隔90°
D.不分段,允許一次橢圓成像透照
最新試題
按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()
檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過(guò)一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無(wú)需X射線檢測(cè)。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。