對于處于研究階段的芯片,特別是模擬集成電路和模/數(shù)混合信號集成電路非常有效,可以大大節(jié)省時(shí)間
晶圓經(jīng)過切割測試后沒有經(jīng)過封裝的芯片
金屬原子沿電流方向遷徙