A.比例元件
B.積分元件
C.微分元件
D.實際微分元件
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最新試題
在頻率法校正中,串聯(lián)滯后校正的實質(zhì)是利用校正裝置的()。
閉環(huán)極點的積等于開環(huán)極點的積。()
用根軌跡法設(shè)計系統(tǒng)的校正裝置,首先由給定的()確定主導極點的位置:然后通過設(shè)置校正裝置的()使根軌跡通過主導極點的預期位置;最后,計算預期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置(),通過增加()滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。
在原點附近增加一對開環(huán)偶極子,根軌跡的走向和特征根的位置(),所以基本上不改變系統(tǒng)的()特性,其作用主要是改變系統(tǒng)的(),提高系統(tǒng)的靜態(tài)精度。
關(guān)于控制系統(tǒng)的數(shù)學模型,下列說法錯誤的是:()
前饋校正一般不單獨使用,總是和其他校正方式結(jié)合起來構(gòu)成()控制系統(tǒng),以滿足某些性能要求較高的系統(tǒng)的需要。
比例微分串聯(lián)校正裝置的主要作用是改善系統(tǒng)的()。
關(guān)于系統(tǒng)特性下列說法錯誤的是()
對于典型二階系統(tǒng),當系統(tǒng)為欠阻尼時,其階躍響應呈現(xiàn)()。
系統(tǒng)的相角裕量越大,超調(diào)越();截至頻率越高,快速性越(),抗高頻干擾的能力越()。