判斷題點缺陷,如空位、間隙原子、反位缺陷、替位缺陷,和由它們構(gòu)成的復合體。()
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
最新試題
目前在半自動化和自動化的鍵合機上用的金絲或硅鋁絲都是經(jīng)生產(chǎn)廠家嚴格處理包裝后銷售,一般不能再退火,一經(jīng)退火反而壞了性能。()
題型:判斷題
門陣列的基本結(jié)構(gòu)形式有兩種:一種是晶體管陣列,一種是門陣列()
題型:判斷題
金屬剝離工藝是以具有一定圖形的光致抗蝕劑膜為掩膜,帶膠蒸發(fā)或濺射所需的金屬,然后在去除光致抗蝕劑膜的同時,把膠膜上的金屬一起去除干凈。()
題型:判斷題
退火處理能使金絲和硅鋁絲的抗斷強度下降。()
題型:判斷題
敘述H2還原SiCl4外延的原理,寫出化學方程式。
題型:問答題
遷移率是反映半導體中載流子導電能力的重要參數(shù)。摻雜半導體的電導率一方面取決于摻雜的濃度,另一方面取決于遷移率的大小。同樣的摻雜濃度,載流子的遷移率越大,材料的電導率就越高。()
題型:判斷題
厚膜元件材料的粉末顆粒越小、表面形狀謦復雜,比表面積就越大,則表面自由能也就越高,對燒結(jié)越有利。()
題型:判斷題
離子源是產(chǎn)生離子的裝置。()
題型:判斷題
光致抗蝕劑在曝光前對某些溶劑是可溶的,曝光后硬化成不可溶解的物質(zhì),這一類抗蝕劑稱為負性光致抗蝕劑,由此組成的光刻膠稱為負性膠。()
題型:判斷題
表面鈍化工藝是在半導體芯片表面復蓋一層保護膜,使器件的表面與周圍氣氛隔離。()
題型:判斷題