單項(xiàng)選擇題采用非熒光檢測(cè)工件時(shí)，對(duì)磁痕的觀察環(huán)境應(yīng)為（）

A、黑光燈下
B、一定強(qiáng)度的可見光下
C、熒光下
D、暗室


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1.單項(xiàng)選擇題適合于磁粉探傷的材料是（）

A、順磁性材料
B、有色金屬
C、鐵磁性材料
D、抗磁性材料

2.單項(xiàng)選擇題DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，遇有哪種情況時(shí)，應(yīng)對(duì)儀器和探頭系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核（）

A、校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)
B、開路電壓波動(dòng)或者檢測(cè)者懷疑靈敏度有變化時(shí)
C、連續(xù)工作4小時(shí)以上，以及工作結(jié)束時(shí)
D、以上都是