X射線衍射儀研磨后的樣品粒徑要小于（）

腐泥型有機質(zhì)進一步演化主要生成（）

X射線衍射儀分析測定時的室溫應在（）

側(cè)向測井按探測半徑可分為（）

膏鹽巖地層在鉆井作業(yè)過程中經(jīng)常發(fā)生塑性蠕變，膏鹽巖地層中的鹽巖（），膏巖（）

鉆井過程中，導致鉆井液發(fā)生滲漏的原因是（）

沉積剖面上，相似的巖性組合的每一個重復都叫做一個（）

膏鹽巖地層中的主要巖石都屬于（）巖系。

X射線衍射分析的是樣品的（）

在測量地層電阻率時，要受（）等因素的影響，測得的參數(shù)不等于地層的真電阻率，而是被稱為地層的視電阻率。