A.可以精確調(diào)節(jié)或改變聲束角度
B.便于實(shí)現(xiàn)聚焦聲束檢測(cè)
C.便于實(shí)現(xiàn)快速或自動(dòng)檢測(cè)
D.以上都是
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A.由粗糙表面引起的聲能損失較小
B.表面盲區(qū)較小
C.人為因素影響較小
D.以上都是
A.經(jīng)工件返回的聲能損失較大
B.不適用于檢測(cè)形狀復(fù)雜的零件
C.不易保持穩(wěn)定的耦合
D.以上都是
A.操作簡(jiǎn)便，適用于局部或現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)
B.聲能損失較少，可以提供較大的穿透能力
C.相同條件下，可提供更高的檢測(cè)靈敏度
D.以上都是
A.檢測(cè)大厚度零件，選擇較低的頻率是為了減少表面散射損耗
B.檢測(cè)小厚度零件，選擇較高的頻率是為了提高分辨力
C.檢測(cè)晶粒粗大零件，選擇較低的頻率是為了提高小缺陷檢測(cè)能力
D.以上都正確
A.受檢件的熱處理狀態(tài)、表面狀態(tài)、可能的加工余量；
B.受檢件的材料牌號(hào)、制造工藝、尺寸；
C.受檢件受力方向、影響使用性能的缺陷種類及形成原因；
D.受檢件材料及形狀、缺陷位置及取向、驗(yàn)收要求。
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。