在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

發(fā)生康普頓散射的條件是（）