A.在欲使用添加劑前，應(yīng)取樣分析，建立各種添加劑特征圖
B.用作背景曲線的樣品，應(yīng)稀釋5倍后，再進(jìn)行分析
C.在起下鉆或鉆井液性能變化時(shí)，也應(yīng)作背景圖譜曲線
D.作背景曲線的目的是以備作正式樣品分析時(shí)進(jìn)行扣除
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A.儲(chǔ)集層中殘余重?zé)N量
B.儲(chǔ)集層中氣態(tài)烴的含量
C.儲(chǔ)集層中固態(tài)烴的含量
D.儲(chǔ)集層中液態(tài)烴的含量
A.氣層
B.油氣層
C.含水氣層
D.油層
A.由老變新
B.由新變老
C.無(wú)變化
D.沒(méi)有規(guī)律可循
A.地層巖性、儲(chǔ)集層物性、生油指標(biāo)等
B.斷層、油水過(guò)渡帶等
C.油氣層組的物性資料和四性關(guān)系等
A.含油巖石樣品圖譜
B.鉆井液圖譜
C.混油圖譜
D.地層水圖譜
最新試題
X射線衍射儀是一個(gè)半封閉的設(shè)備，不需要大規(guī)模的清洗，重要的是定期清理（）
X射線衍射儀分析測(cè)定時(shí)的室溫應(yīng)在（）
元素分析儀需要的輔助設(shè)備包括（）
沉積剖面上，相似的巖性組合的每一個(gè)重復(fù)都叫做一個(gè)（）
當(dāng)油氣層射孔后，為保護(hù)油氣層免受壓井液損害，需要盡快（）
LH-XRF4500H元素分析儀真空度不高于（）兆帕。
在測(cè)量地層電阻率時(shí)，要受（）等因素的影響，測(cè)得的參數(shù)不等于地層的真電阻率，而是被稱(chēng)為地層的視電阻率。
膏鹽巖地層在鉆井作業(yè)過(guò)程中經(jīng)常發(fā)生塑性蠕變，膏鹽巖地層中的鹽巖（），膏巖（）
對(duì)于重點(diǎn)探井，地質(zhì)錄井技術(shù)員必須具有（）口以上一般探井工作經(jīng)歷，并能獨(dú)立處理和解決特殊及復(fù)雜問(wèn)題。
中途完井的目的是封住上部的（）