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A.只適用于材料表層或薄膜樣品的結(jié)構(gòu)分析。
B.只關(guān)心衍射斑點(diǎn)的位置，不關(guān)心強(qiáng)度。
C.入射電子束、衍射電子束與產(chǎn)生衍射的晶面近乎平行。
D.只能觀察薄膜樣品的結(jié)構(gòu)，不能與形貌觀察有機(jī)結(jié)合起來。
A.[01-1]
B.[210]
C.[0-1-2]
D.[211]
A.樣品相對于電子束必須有足夠的透明度
B.薄膜樣品的組織結(jié)構(gòu)必須和大塊樣品相同，在制備過程中，組織結(jié)構(gòu)不變化
C.薄膜樣品應(yīng)有一定強(qiáng)度和剛度，在制備、夾持和操作過程中不會引起變形和損壞
D.在樣品制備過程中不允許表面產(chǎn)生氧化和腐蝕
最新試題
（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。
拉曼光譜分析時(shí)，1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。
掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。
掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。