A.在檢測(cè)開(kāi)始之前和結(jié)束之后應(yīng)進(jìn)行
B.在檢測(cè)開(kāi)始之前進(jìn)行
C.在檢測(cè)結(jié)束之后應(yīng)進(jìn)行
D.以上都不是
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A.30—100kHz
B.100—1MHz
C.100—400kHz
D.100—200kHz
A.15天
B.一個(gè)月
C.一周
D.二個(gè)月
A.鋼管
B.毛竹
C.樹(shù)桿
D.都不宜
A.黃油
B.凡士林
C.真空脂
D.環(huán)氧樹(shù)脂(不加固化劑)
A.采用較軟較細(xì)的鉛筆芯作模擬源
B.重新設(shè)置事件鎖定時(shí)間
C.傳感器重新耦合
D.定位布點(diǎn)錯(cuò)誤,重新布點(diǎn)
最新試題
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
缺陷分類(lèi)應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。