A.激光束
B.電子束
C.熒光束
D.紫外光束
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.采用的IP板性能
B.IP板圖像讀出時(shí)掃描激光點(diǎn)尺寸
C.掃描的機(jī)械裝置性能
D.透照的曝光量
A.可獲得更高信噪比
B.可獲得更高對(duì)比度
C.通常都具有更高空間分辨率
D.數(shù)字化過(guò)程簡(jiǎn)單
A.探測(cè)器各個(gè)單元的尺寸、本底噪聲可能不同
B.探測(cè)器各個(gè)單元的本底噪聲、增益性能可能不同
C.探測(cè)器各個(gè)單元的增益性能、尺寸可能不同
D.探測(cè)器各個(gè)單元的尺寸、壞像素情況可能不同
A.只能通過(guò)掃描方式完成檢測(cè)圖像采集
B.這種系統(tǒng)必須有機(jī)械裝置
C.機(jī)械裝置的運(yùn)動(dòng)構(gòu)成了各方向的采樣間隔
D.只能以動(dòng)態(tài)檢測(cè)方式獲取檢測(cè)圖像。
A.非晶硅面陣探測(cè)器
B.氣體面陣探測(cè)器
C.CMOS面陣探測(cè)器
D.非晶硒面陣探測(cè)器
最新試題
在射線檢測(cè)中，下列哪一種裂紋最難檢測(cè)（）
合格的底片應(yīng)至少滿足以下哪些質(zhì)量要求（）
下列關(guān)于X射線機(jī)的使用的描述不正確的是（）
射線底片灰霧度過(guò)大會(huì)損害影像的（）
以下關(guān)于聲發(fā)射檢測(cè)的特點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷，適用的無(wú)損檢測(cè)方法是（）
在同樣的X射線管電流下，管電壓增加，則（）
在試件外緣由射線散射引起射線照相圖像質(zhì)量變差的現(xiàn)象叫（）
有關(guān)射線膠片特性的敘述，正確的是（）
核力與下列哪種因素?zé)o關(guān)（）