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填空題
測(cè)量平面度誤差時(shí),常將平面平晶工作面貼在被測(cè)表面上,并稍加壓力,就會(huì)有干涉條紋出現(xiàn)。干涉條紋越多,則平面度誤差()。
答案:
越大
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】你是如何測(cè)量工件的直線(xiàn)度誤差的?
答案:
比較簡(jiǎn)便實(shí)用的直線(xiàn)度誤差測(cè)量方法是光隙法和測(cè)微法。
光隙法:
檢驗(yàn)工具:平尺或樣板直尺,塞尺。
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判斷題
直線(xiàn)度誤差測(cè)量方法中的測(cè)微法常用于測(cè)量精度要求高的場(chǎng)合。
答案:
錯(cuò)誤
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